全新设计的S8000超高分辨场发射扫描电镜可以提供无与伦比的图像质量，具有强大的扩展分析能力，能够满足现今工业研发和科研的所有需求，不仅适用于高端的纳米分析应用，也给操作者带来舒适、高效的使用体验。
S8000 FE-SEM的优点：新一代镜筒内电子加速、减速技术，保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力首次配置的静电-电磁复合物镜，物镜无磁场外泄，实现磁性样品高分辨成像及分析配置4个新一代探测器，可实现9种图像观测，对样品信息的采集更加全面配置大型样品室，有超过20个扩展接口，为原位观测、分析创造了良好的工作环境可以配置TESCAN自有或第三方的多种扩展分析附件，如EDS、EBSD、CL、EBL，并独家实现与Raman联用
创新的电子光学镜筒，使电镜拥有更加出色的超高分辨率
TESCAN S8000配置了最新的BrightBeam?镜筒，实现了无磁场超高分辨成像，可以最大化的实现各种分析，包括磁性样品的分析。新型镜筒中的电子光路设计增强了低能量电子成像分辨率，特别适合对电子束敏感样品和不导电样品的分析。
另外，EquiPower?透镜技术可有效减少能量损耗并保证电子镜筒的稳定性。
BrightBeam?电子光学镜筒及探测器系统
（A）Axial detect (In-Beam)
（B）Multidetect (In-Beam)
（C）E-T detect (In-Chamber)
（D）Retractable BSE (In-Chamber)
配备最新的多种探测器，更好的表面灵敏度和对比度
S8000可配置最新的多种探测器，包括透镜内Axial detect 以及 Multidetect，可选择不同角度和不同能量来收集信号，体现更多种类的信息，同时获得更好的表面灵敏度和对比度。
